ATE 解決方案適用于大批量、關(guān)鍵任務(wù)電子部件、模塊、和系統(tǒng)的功能測試
基于PXI架構(gòu)提供緊湊外形,開放架構(gòu)和可擴(kuò)展性。詳細(xì)>>
用于模擬、數(shù)字、混合信號和航空電子測試。詳細(xì)>>
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