基于RFLE設(shè)備在歐洲最大的儲(chǔ)存器生產(chǎn)商（英飛凌，ST，賽風(fēng)，IMEC）的測(cè)試上取得的巨大成功，新型高性能的RIFLE-SE系統(tǒng)已經(jīng)被開(kāi)發(fā)用于單個(gè)儲(chǔ)存單元，獨(dú)立或者嵌入式先進(jìn)的非易失性儲(chǔ)存（NAND/NOR標(biāo)準(zhǔn)閃存，多級(jí)，雙位，PCM）。

RIFLE-SE擁有全新的結(jié)構(gòu)體系，可提供十倍的數(shù)字和模擬性能，并添加了新的重要的功能，擴(kuò)大其應(yīng)用領(lǐng)域，大大減少了測(cè)試時(shí)間。

RIFLE-SE擁有改進(jìn)過(guò)的用戶界面，完全圖形化，只需要點(diǎn)擊鼠標(biāo)即可進(jìn)行復(fù)雜的分析和顯示。

應(yīng)用領(lǐng)域

RIFLE-ES已經(jīng)被開(kāi)發(fā)了用于深入研究非易失性儲(chǔ)存單元和陣列的行為和可靠性。

它的易用性高和易編程性的界面，和一個(gè)專(zhuān)用的高性能測(cè)試引擎，使用它能用于在比較廣泛的應(yīng)用當(dāng)中，比如在技術(shù)和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)，以及在內(nèi)存設(shè)備的生命周期中。

技術(shù)和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)

單元可靠性研究：

• 單元測(cè)試和表征 (IV, Vt)
• 單個(gè)單元循環(huán)
• 算法實(shí)驗(yàn) (脈沖波形，長(zhǎng)度…)

陣列可靠性研究:

• 陣列測(cè)試和表征 (分布，映射，子集識(shí)別)
• 全部或者部分陣列循環(huán)
• 算法實(shí)驗(yàn) (編程與擦除，模擬P/E控制器)

產(chǎn)品調(diào)試:

• 功能驗(yàn)證 (陣列 + 接口)
• 產(chǎn)品表征 (分布，映射，子集識(shí)別)
• 使用嵌入式控制器來(lái)進(jìn)行全部或者部分陣列循環(huán)

產(chǎn)品質(zhì)檢:

• 錯(cuò)誤分析
• 互動(dòng)檢測(cè)

制造和產(chǎn)品生命周期

過(guò)程控制：

• 測(cè)試結(jié)構(gòu)的功能性和可靠性分析
• 陣列測(cè)試和表征 (分布，映射，子集識(shí)別)
• 全部或者部分陣列循環(huán)

產(chǎn)品質(zhì)量控制：

• 產(chǎn)品的功能性和可靠性分析
• 產(chǎn)品表征 (分布圖，映射，子集識(shí)別)
• 使用嵌入式控制器進(jìn)行全部或者部分陣列循環(huán)

錯(cuò)誤分析：

• 得知錯(cuò)誤是來(lái)自于測(cè)試過(guò)程還是質(zhì)量控制過(guò)程
• 互動(dòng)檢測(cè)

現(xiàn)場(chǎng)回報(bào)分析：

• 了解現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用的故障
• 互動(dòng)檢測(cè)