高速和靜態3U和6U PXI和PCI數字I/O儀器。提供測試速率達到200MHz和可編程邏輯電平-10V至+15V, 我們的數字產品是行業內性能最高和性價比最大的數字測試解決方案。
用戶可編程,板載Altera Cyclone V GX FPGA。 詳細>>
32輸入/輸出通道,動態可配置,基于每通道。 詳細>>
50 MHz 動態數字儀器,每個引腳直接控制。詳細>>
高電壓引腳電路,帶每通道可編程和 PMU 引腳。詳細>>
32輸入或輸出通道。 詳細>>
32輸入/輸出通道,動態可配置,基于每通道。詳細>>
每引腳定時,多時間設置和柔性定序器。詳細>>
64雙向轉換通道或128數字 I/O通道 。 詳細>>
64雙向TTL I/O和LVDS差分 I/O端口每通道。 詳細>>
3個32位LVTTL端口,用于總計 96 LVTTL輸入或輸出通道。 詳細>>
單個插槽,3U格式。 詳細>>
基于 PXI 的集成半導體測試平臺。詳細>>
支持全速操作被測對象(UUT),無需修改。詳細>>
32雙向 I/O 引腳(16板卡可菊形鏈接于總計512引腳)。詳細>>
50MHz 矢量運算率 動態控制。詳細>>
32 輸入或輸出通道。 詳細>>
4個32位 TTL 端口,用于總計128 TTL 輸入或輸出通道。詳細>>
行業內最高密度的PXI數字I/O通道。詳細>>
32雙向 I/O 引腳(16板卡可菊形連接于總計512引腳) 詳細>>
圖形化矢量開發環境,適用于 GX5050、GX5150、GX5280、GX5290 和 GX5295 動態數字 I/O 產品。詳細>>
導入和轉換 STIL 數字矢量(IEEE-1450,標準測試接口語言文件)為我們的數字矢量格式。詳細>>
從LASAR仿真導入、轉換和執行 IEEE-1445 兼容 .tap 文件,配合使用我們的數字硬件和數字功能測試系統。詳細>>
GT5001-5
GT5002
GT5002-5
GT5004-40
GT5004-40-5
GT5006
TTL應用。詳細>>
提高測試速度到 100 MHz。 詳細>>
可編程電平和閾值含三態控制。 詳細>>
PECL 轉 TTL 和 TTL 轉 PECL 。 詳細>>
GtDio6x-FIT
GX3501
80 通道、TTL 緩存板用于 GX3500 FPGA 板卡。詳細>>
GX3509
80 通道,差分 TTL 緩存板用于 GX3500 FPGA 板卡。詳細>>
80 通道,mLVDS 擴展板卡用于 GX3500 FPGA 板卡。詳細>>
40 輸入/輸出 ECL 通道。 詳細>>
GX515x 存儲器模塊、1Mbx32、用于 50MHz測試。
32可編程輸入。詳細>>
32 TTL輸出。詳細>>
32 開路集電極,光耦合輸出。詳細>>
32 RS-422 (差分) I/O 通道。 詳細>>
16 雙向 LVDS 轉 TTL 通道。 詳細>>
16 通道雙向 TTL 轉 RS-422 轉換器。詳細>>
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